Sensorteil einer Spektroskopischen Analysevorrichtung, Messsystem und Messverfahren
EP4579217
Art A1
2. Juli 2025
Anmelder: FUJIFILM Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4579217
- Aktenzeichen
- EP23871784
- Anmeldetag
- 6. September 2023
- Veröffentlichung
- 2. Juli 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/05G01N21/65G01N21/03G01N21/85
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FUJIFILM Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujifilm
Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München