Sensorteil einer Spektroskopischen Analysevorrichtung, Messsystem und Messverfahren

EP4579217 Art A1 2. Juli 2025

Anmelder: FUJIFILM Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4579217
Aktenzeichen
EP23871784
Anmeldetag
6. September 2023
Veröffentlichung
2. Juli 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/05G01N21/65G01N21/03G01N21/85
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
FUJIFILM Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

12.204 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen