Optische Interferometrische Messvorrichtung in Photonischen Integrierten Schaltungen
EP4579219
Art A1
2. Juli 2025
Anmelder: Aristotle University of Thessaloniki - E.L.K.E. (Eidikos Logariasmos Kondilion Erevnas), University of Ioannina-E.L.K.E. (Eidikos Logariasmos Kondiliwn Erevnas) 🇬🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4579219
- Aktenzeichen
- EP24223779
- Anmeldetag
- 30. Dezember 2024
- Veröffentlichung
- 2. Juli 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/552G01N21/77
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Aristotle University of Thessaloniki - E.L.K.E. (Eidikos Logariasmos Kondilion Erevnas)
University of Ioannina-E.L.K.E. (Eidikos Logariasmos Kondiliwn Erevnas) - Land
- 🇬🇷 Griechenland
Fachgebiete
Vertreten von
Petsis, Christos
Thessaloniki, Griechenland
97
Patente gesamt
26
Fachgebiete
5
Anmelder-Länder
Schwerpunkte