Nahfeldtestsystem mit mehreren Zielen
EP4584599
Art A1
16. Juli 2025
Anmelder: Raytheon Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4584599
- Aktenzeichen
- EP23750813
- Anmeldetag
- 7. Juli 2023
- Veröffentlichung
- 16. Juli 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R29/10G01S7/40
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Raytheon Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Raytheon Company
US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.
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