Dynamisches Spannungsbeanspruchungsbedingungsoptimierungsverfahren und Dynamisches Spannungsbeanspruchungsbedingungsoptimierungssystem mit Blockbasiertem Dynamischem Spannungsbelastungswafertestverfahren
EP4585937
Art A1
16. Juli 2025
Anmelder: MediaTek Inc. 🇹🇼
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4585937
- Aktenzeichen
- EP24201367
- Anmeldetag
- 19. September 2024
- Veröffentlichung
- 16. Juli 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- MediaTek Inc.
- Land
- 🇹🇼 Taiwan
🇹🇼
MediaTek
Taiwanisches Unternehmen, das Halbleiter und Chipsätze für Smartphones, Fernseher, WLAN-Geräte und andere elektronische Produkte entwickelt und vertreibt.
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