Vorrichtung zur Unterstützung der Bestrahlungspositionsüberprüfung, Verfahren zur Unterstützung der Bestrahlungspositionsüberprüfung und Programm zur Unterstützung der Bestrahlungspositionsüberprüfung
EP4595888
Art A1
6. August 2025
Anmelder: HITACHI HIGH-TECH CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4595888
- Aktenzeichen
- EP23871338
- Anmeldetag
- 26. Juni 2023
- Veröffentlichung
- 6. August 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- A61B6/03A61N5/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- HITACHI HIGH-TECH CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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