Interferometer-System und Messverfahren

EP4602326 Art A1 20. August 2025

Anmelder: Dioptic GmbH, TEM Messtechnik GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4602326
Aktenzeichen
EP23793233
Anmeldetag
9. Oktober 2023
Veröffentlichung
20. August 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G01B9/02004G01B9/02001G01B9/02015G01B9/02055
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Dioptic GmbH
TEM Messtechnik GmbH
Land
🇩🇪 Deutschland

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