Bestimmung von Substrateigenschaften durch Virtuelle Substratmessung
EP4616320
Art A1
17. September 2025
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4616320
- Aktenzeichen
- EP23889536
- Anmeldetag
- 3. November 2023
- Veröffentlichung
- 17. September 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F30/367G06F30/398G06F3/04815H01L21/66G06F111/18G06F111/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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