Ionenfallenvorrichtungen und Zugehörige Herstellungsverfahren
Anmelder: Infineon Technologies Austria AG 🇦🇹
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4645178
- Aktenzeichen
- EP24174099
- Anmeldetag
- 3. Mai 2024
- Veröffentlichung
- 5. November 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06N10/40// H01L21/48H01L23/14H01L23/15H01L23/498G21K1/00
Abstract
An ion trap device includes a dielectric substrate and a via hole extending through the dielectric substrate from a first main surface of the dielectric substrate to a second main surface of the dielectric substrate. The ion trap device further includes an electrically conductive etch stop layer arranged on the first main surface of the dielectric substrate, wherein the etch stop layer covers the via hole. The ion trap device further includes a metal layer of an ion trap at least partially arranged on the etch stop layer and an electrically conductive material arranged in the via hole, wherein the etch stop layer electrically couples the electrically conductive material and the metal layer.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies Austria AG
- Land
- 🇦🇹 Österreich
Österreichische Konzerngesellschaft des deutschen Halbleiterherstellers Infineon mit Sitz in Villach. Entwickelt und fertigt Halbleiterbauelemente für Automobil-, Energie- und Industrieanwendungen.
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