Ionenfallenvorrichtungen und Zugehörige Herstellungsverfahren

EP4645178 Art A1 5. November 2025

Anmelder: Infineon Technologies Austria AG 🇦🇹

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4645178
Aktenzeichen
EP24174099
Anmeldetag
3. Mai 2024
Veröffentlichung
5. November 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G06N10/40// H01L21/48H01L23/14H01L23/15H01L23/498G21K1/00
Offizieller Volltext

Abstract

An ion trap device includes a dielectric substrate and a via hole extending through the dielectric substrate from a first main surface of the dielectric substrate to a second main surface of the dielectric substrate. The ion trap device further includes an electrically conductive etch stop layer arranged on the first main surface of the dielectric substrate, wherein the etch stop layer covers the via hole. The ion trap device further includes a metal layer of an ion trap at least partially arranged on the etch stop layer and an electrically conductive material arranged in the via hole, wherein the etch stop layer electrically couples the electrically conductive material and the metal layer.

Anmelder

Firma
Infineon Technologies Austria AG
Land
🇦🇹 Österreich
🇦🇹 Infineon Technologies Austria

Österreichische Konzerngesellschaft des deutschen Halbleiterherstellers Infineon mit Sitz in Villach. Entwickelt und fertigt Halbleiterbauelemente für Automobil-, Energie- und Industrieanwendungen.

680 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen