Oberflächenmessinstrument, Oberflächenmesssystem und Messverfahren

EP4660579 Art A1 10. Dezember 2025

Anmelder: Topcon Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4660579
Aktenzeichen
EP24750276
Anmeldetag
30. Januar 2024
Veröffentlichung
10. Dezember 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G01C15/06G01B11/30G01C7/02G01C15/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Topcon Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

710 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen