Oberflächenmessinstrument, Oberflächenmesssystem und Messverfahren
EP4660579
Art A1
10. Dezember 2025
Anmelder: Topcon Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4660579
- Aktenzeichen
- EP24750276
- Anmeldetag
- 30. Januar 2024
- Veröffentlichung
- 10. Dezember 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01C15/06G01B11/30G01C7/02G01C15/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Topcon Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Topcon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.
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