Verfahren zur Messung einer Internen Kapazität einer Transistorvorrichtung
EP4679106
Art A1
14. Januar 2026
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4679106
- Aktenzeichen
- EP24187019
- Anmeldetag
- 8. Juli 2024
- Veröffentlichung
- 14. Januar 2026
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R27/26G01R31/26H01L21/66G01R29/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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