Eingebauter Selbsttest des Speichers (mbist) mit Verbesserten Fehleranzeigen
EP4682888
Art A1
21. Januar 2026
Anmelder: NXP USA, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4682888
- Aktenzeichen
- EP25188769
- Anmeldetag
- 10. Juli 2025
- Veröffentlichung
- 21. Januar 2026
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11C29/44G11C29/38G11C29/42
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP USA, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
NXP USA
US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.
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