Speicherintegrierter Selbsttest (mbist) mit Verbessertem Fehlerzähler
EP4685802
Art A1
28. Januar 2026
Anmelder: NXP USA, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4685802
- Aktenzeichen
- EP25190149
- Anmeldetag
- 17. Juli 2025
- Veröffentlichung
- 28. Januar 2026
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11C29/44
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP USA, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
NXP USA
US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.
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