Verfahren zum Auswerten von Messwerten einer Aberration eines Projektionsobjektivs
EP4705834
Art A2
11. März 2026
Anmelder: Carl Zeiss SMT GmbH, ASML Netherlands B.V. 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4705834
- Aktenzeichen
- EP24722575
- Anmeldetag
- 26. April 2024
- Veröffentlichung
- 11. März 2026
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03F7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Carl Zeiss SMT GmbH
ASML Netherlands B.V. - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
3.336 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
-
Zeuner Summerer Stütz
Zeuner Summerer Stütz · München