Maskenvariabilitätsreduktion durch Ortsbewahrende Musterhashes

EP4718155 1. April 2026

Anmelder: Intel Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4718155
Anmeldetag
21. August 2025
Veröffentlichung
1. April 2026
Rechtsraum
EP
IPC
G03F1/36
Offizieller Volltext

Abstract

A method includes generating a hash comprising a plurality of values based on a geometric pattern within a window that represents a portion of a physical design for a semiconductor mask layer, the window including at least a portion of a polygon; determining a displacement value for a segment of the polygon based on the hash; and modifying a position of a segment of the polygon based on the displacement value.

Anmelder

Firma
Intel Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

26.648 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen