Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren

EP4722745 5. Dezember 2024

Anmelder: Tokyo Electron Limited 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4722745
Anmeldetag
17. Mai 2024
Veröffentlichung
5. Dezember 2024
Rechtsraum
EP
Offizieller Volltext

Abstract

This inspection device inspects an inspection object which has an imaging device into which light enters from a side opposite a wiring layer. The inspection device includes: a mounting platform through which light can pass that has a mounting surface on which the inspection object is to be mounted in a manner facing the opposite side of the imaging device with respect to the wiring layer; a mounting platform operating part capable of moving the mounting platform vertically and horizontally; and an irradiation device that irradiates inspection light onto the imaging device through the mounting surface. The mounting platform operating part changes, by moving the mounting platform, the relative position of the irradiation device with respect to the inspection object mounted on the mounting surface.

Anmelder

Firma
Tokyo Electron Limited
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Tokyo Electron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.

2.414 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen