Verfahren zur Bestimmung der Talteilung in einer Halbleitervorrichtung

EP4740145 3. April 2025

Anmelder: Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule (RWTH) Aachen, Forschungszentrum Jülich GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4740145
Anmeldetag
29. September 2023
Veröffentlichung
3. April 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G06N10/40
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule (RWTH) Aachen
Forschungszentrum Jülich GmbH
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Forschungszentrum Jülich

Deutsche Großforschungseinrichtung der Helmholtz-Gemeinschaft mit Sitz in Jülich, gegründet 1956. Forschungsschwerpunkte sind Energie, Information und Gehirnforschung.

1.138 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen