Auf Streifenprojektion Basierendes Räumliches Phasenbildgebungsüberwachungssystem mit einem Einzigen Optischen Pfad
Anmelder: Korea Research Institute of Standards and Science 🇰🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4749345
- Anmeldetag
- 17. November 2025
- Veröffentlichung
- 27. Mai 2026
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/14, G02B26/06
Abstract
A fringe projection-based spatial phase imaging monitoring system using a single optical path includes: a light source; a first beam splitter that transmits a first light and reflect a second light; a tilt mirror that reflects the first light transmitted through the first beam splitter back toward the first beam splitter and varies a phase of the first light; a mirror that reflects the second light reflected by the first beam splitter back toward the first beam splitter; a lens that condenses the first and second lights reflected by the tilt mirror and the mirror; a second beam splitter that transmits the condensed first and second lights toward a sample and reflects light returning from the sample; and an image sensor that captures an image of the sample in which a fringe is formed according to a phase difference between the first and second lights.
Anmelder
- Firma
- Korea Research Institute of Standards and Science
- Land
- 🇰🇷 Südkorea
Der Anmelder ist ein südkoreanisches staatliches Forschungsinstitut für Metrologie mit Sitz in Daejeon, bekannt als KRISS. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiterbauelemente, Software und Medizintechnik. Anmeldungen laufen seit 2002 durchgehend fort.
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