Verfahren zur Fehlerzählungsmeldung mit Skalierten Fehlerzählungsinformationen und Speichervorrichtungen damit
Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4749461
- Anmeldetag
- 12. Juli 2019
- Veröffentlichung
- 27. Mai 2026
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F11/10
Abstract
An apparatus comprising a memory array including a plurality of memory cells arranged in a plurality of columns and a plurality of rows is provided. The apparatus further comprises circuitry configured to perform an error detection operation on the memory array to determine a raw count of detected errors, to compare the raw count of detected errors to a threshold value to determine an over-threshold amount, to scale the over-threshold amount according to a scaling algorithm to determine a scaled error count, and to store the scaled error count in a user-accessible storage location.
Anmelder
- Firma
- Micron Technology, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.
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