Positionsmesseinrichtung
Anmelder: Dr. Johannes Heidenhain GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP4752498
- Anmeldetag
- 16. September 2025
- Veröffentlichung
- 3. Juni 2026
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/00, G01B7/00
Abstract
Die Erfindung betrifft eine Positionsmesseinrichtung zur Erfassung der Relativposition zweier Objekte, wobei die Objekte entlang einer translatorischen Hauptbewegungsrichtung und in weiteren Freiheitsgraden relativ zueinander beweglich sind. Ein in der Hauptbewegungsrichtung längserstreckter Maßstabträger weist eine erste, eine zweite und eine dritte Oberfläche auf, durch die jeweils eine Ebene definiert ist und wobei auf jeder Oberfläche jeweils mindestens eine Messteilung angeordnet ist. Eine relativ gegenüber dem Maßstabträger bewegliche Abtastbaugruppe umfasst mehrere Abtasteinheiten, die zur Erzeugung verschiebungsabhängiger Positionssignale aus der Abtastung der Messteilungen ausgebildet sind, wobei jeder Oberfläche mindestens eine Abtasteinheit zugeordnet ist. Die durch die zweite Oberfläche definierte Ebene unterteilt den umgebenden Raum in zwei Halbräume, wobei in einem der Halbräume die erste Oberfläche mit mindestens einer Messteilung angeordnet ist und im anderen Halbraum die dritte Oberfläche mit mindestens einer Messteilung angeordnet ist
Anmelder
- Firma
- Dr. Johannes Heidenhain GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
Deutscher Hersteller von Mess- und Steuerungstechnik, darunter Längen- und Winkelmessgeräte, Drehgeber sowie CNC-Steuerungen für Werkzeugmaschinen und Präzisionsfertigung.
595 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.