Halbleiterpixel mit Beugungsgitter und Interferometrischem Filter, Bildsensor

EP4753406 3. Juni 2026

Anmelder: STMicroelectronics International N.V. 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4753406
Anmeldetag
13. November 2025
Veröffentlichung
3. Juni 2026
Rechtsraum
EP
Offizieller Volltext

Abstract

Un capteur d'images est constitué de pixels rétroéclairés (110) formés dans et sur un substrat semiconducteur (101). Un rayonnement dans le domaine infrarouge proche atteint le photodétecteur rétroéclairé (112) des pixels via une surface éclairée supérieure (102) du photodétecteur. Une structure hybride combinant réseau de diffraction (114) au niveau de cette surface supérieure et filtre interférométrique à couches non-régulières (115) déposé sur le réseau de diffraction permet de piéger les photons dans le silicium du photodétecteur. Le rayonnement est diffracté dans le photodétecteur avec un angle suffisant pour qu'après réflexion sur des tranchées (113) isolant les photodétecteurs adjacents et sur la couche métallique (111) déposée sur la surface opposée du photodétecteur rétroéclairé, il soit réfléchi par le filtre interférométrique. Les photons sont piégés dans le substrat ; leur absorption et donc le rendement quantique du pixel rétroéclairé sont améliorés.

Anmelder

Firma
STMicroelectronics International N.V.
Land
🇨🇭 Schweiz
🇨🇭 STMicroelectronics International

Schweizer Gesellschaft des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics, die Chips und Sensoren für Automobiltechnik, Industrie und Unterhaltungselektronik entwickelt.

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