Von Unten nach Oben Verlaufende Plattierung von Kontaktlöchern durch Glas

EP4766144 24. Juni 2026

Anmelder: Intel Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4766144
Anmeldetag
17. Oktober 2025
Veröffentlichung
24. Juni 2026
Rechtsraum
EP
IPC
H10W70/692, H10W70/63
Offizieller Volltext

Abstract

Various techniques, as well as related devices and methods, for performing metallization of through-glass vias (TGVs) in glass substrates using bottom-up plating are disclosed. A first technique is based on using subtractive etch. A second technique is based on using modified semi-additive process. A third technique is based on using flowable materials to fill a cavity in a glass substrate alongside performing bottom-up plating. Any of these techniques may further be modified by including a liner on sidewalls of TGVs to serve as a buffer layer between the glass substrate and conductive material(s) in the TGVs.

Anmelder

Firma
Intel Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

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