Speichertestalgorithmen für Integrierte 3D-Schaltungen

EP4769413 1. Juli 2026

Anmelder: INTEL Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4769413
Anmeldetag
14. November 2025
Veröffentlichung
1. Juli 2026
Rechtsraum
EP
IPC
G11C29/02, G11C29/26
Offizieller Volltext

Abstract

Devices and methods for testing interconnect lanes of multichip packages with memory test algorithms are provided. The multichip packages that can be tested can comprise a plurality of semiconductor dies mounted on an active interposer.

Anmelder

Firma
INTEL Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

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