Optische Vorrichtung zur Inspektion, Defektinspektionsvorrichtung, Optisches Bestrahlungssystem und Inspektionsverfahren

EP4775952 13. März 2025

Anmelder: NIKON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4775952
Anmeldetag
6. September 2023
Veröffentlichung
13. März 2025
Rechtsraum
EP
Offizieller Volltext

Abstract

A numerical aperture setting member (39) of a first irradiation optical system (30) sets an illumination numerical aperture of first irradiation light (La) when a distance in a Z direction (an optical axis direction of the first irradiation optical system (30)) between a substrate (WF1) and a light collection position of the first irradiation light (La) is a second distance longer than a first distance to be smaller than an illumination numerical aperture of the first irradiation light (La) when the distance in the Z direction between the substrate (WF1) and the light collection position of the first irradiation light (La) is the first distance.

Anmelder

Firma
NIKON CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Nikon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.

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