Höhenmessvorrichtung, Belichtungsvorrichtung und Artikelherstellungsverfahren

EP4779260 22. Juli 2026

Anmelder: Canon Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4779260
Anmeldetag
22. Dezember 2025
Veröffentlichung
22. Juli 2026
Rechtsraum
EP
IPC
G01B11/06, G03F9/00
Offizieller Volltext

Abstract

A height measurement device includes an optical measurement device configured to measure a height of a substrate, an air sensor configured to measure a height of the substrate while discharging air through a pipeline based on a pressure in the pipeline, a member having a reference surface, and a controller configured to correct a result obtained by measuring a height at a second measurement location on the substrate using the optical measurement device based on a first result obtained by measuring a height at a first measurement location on the substrate and a height of the reference surface using the optical measurement device and a second result obtained by measuring a height at the first measurement location on the substrate and a height of the reference surface using the air sensor.

Anmelder

Firma
Canon Kabushiki Kaisha
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Canon

Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, der Kameras, Objektive, Drucker, Kopiergeräte sowie optische und medizinische Bildgebungstechnik entwickelt und herstellt.

19.274 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen