Sekundärelektronendetektor mit einer Leitfähigen Ultradünnen Membran in einem Atmosphärendruck-Elektronenmikroskop

EP4787419 5. August 2026

Anmelder: Coxem Co., Ltd. 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4787419
Anmeldetag
5. Mai 2025
Veröffentlichung
5. August 2026
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/244, H01J37/26
Offizieller Volltext

Abstract

The present invention relates to a secondary electron detector 100 in an atmospheric pressure electron microscope, wherein secondary electrons generated by irradiating a sample S with a high-energy electron beam are captured in an ultra-thin membrane 110 of e.g. graphene supported on an apertured 121 second thin membrane 120, and ionization of air or injection gas between the ultra-thin graphene membrane and the sample is generated by a voltage applied between the ultra-thin graphene membrane and the sample, and is greatly amplified by the avalanche effect, an ion current is displayed as an image on a monitor through an amplifier.

Anmelder

Firma
Coxem Co., Ltd.
Land
🇰🇷 Südkorea

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