Trägervorrichtung und Teilchenstrahlvorrichtung und Optische Inspektionsvorrichtung damit

EP4811417 23. September 2026

Anmelder: Hitachi High-Tech Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP4811417
Anmeldetag
16. März 2026
Veröffentlichung
23. September 2026
Rechtsraum
EP
Offizieller Volltext

Abstract

A stage device capable of preventing elastic deformation of a stage, and a charged particle beam apparatus and an optical inspection apparatus including the same are provided. The stage device includes: a stage configured to hold a sample; a horizontal drive unit configured to drive the stage in a horizontal direction; a vertical drive unit configured to drive the stage in a vertical direction; and a control unit configured to control the horizontal drive unit and the vertical drive unit. The control unit inverts phases of the horizontal drive unit and the vertical drive unit at a specific frequency calculated based on a frequency property when the stage is driven in the horizontal direction and a frequency property when the stage is driven in the vertical direction.

Anmelder

Firma
Hitachi High-Tech Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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