Polysilicon semiconductor thin film substrate, method for producing the same, semiconductor device, and electronic device

WO0101464 Art A1 4. Januar 2001

Anmelder: Hitachi, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO0101464
Aktenzeichen
EP00939147
Anmeldetag
23. Juni 2000
Veröffentlichung
4. Januar 2001
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/20H01L29/786
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Hitachi, Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Hitachi

Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.

16.329 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen