Pattern inspection device and pattern inspection method
WO0113333
Art A1
22. Februar 2001
Anmelder: IBIDEN CO., LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO0113333
- Aktenzeichen
- EP00951898
- Anmeldetag
- 7. August 2000
- Veröffentlichung
- 22. Februar 2001
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06T1/00G01N21/956
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- IBIDEN CO., LTD.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Ibiden
Ibiden ist ein japanischer Hersteller elektronischer Materialien mit Sitz in Ogaki, spezialisiert auf IC-Substrate für Halbleiter sowie Keramikprodukte für die Automobil- und Elektronikindustrie.
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