Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterchips Mit, nach dem Siliciumprozess Einstellbarer Elektrischer Eigenschaft
WO0115217
Art A2
1. März 2001
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO0115217
- Aktenzeichen
- EP00965791
- Anmeldetag
- 24. August 2000
- Veröffentlichung
- 1. März 2001
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
4.872 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.