Verfahren zur Verbesserten Schätzung der Kritischen Abmessungen bei der Herstellung von Mikroelektronischen Bauelementen

WO0122183 Art A1 29. März 2001

Anmelder: ADVANCED MICRO DEVICES, INC., ADVANCED MICRO DEVICES INC. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO0122183
Aktenzeichen: EP00932092
Anmeldetag: 5. Mai 2000
Veröffentlichung: 29. März 2001
Rechtsraum: WO
IPC: G05B19/418H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: ADVANCED MICRO DEVICES, INC.
ADVANCED MICRO DEVICES INC.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Advanced Micro Devices

US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.

1.708 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Steuerungs- & Regelungstechnik

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