Verfahren und Anordnung für On-Chip Überwachung Integrierter Schaltungen mit einem Verteilten System

WO0133239 Art A1 10. Mai 2001

Anmelder: SUN MICROSYSTEMS, INC. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO0133239
Aktenzeichen: EP00974034
Anmeldetag: 31. Oktober 2000
Veröffentlichung: 10. Mai 2001
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3185

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: SUN MICROSYSTEMS, INC.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Sun Microsystems

Ehemaliger US-amerikanischer Hersteller von Servern, Workstations und Software, bekannt unter anderem für die Programmiersprache Java und das Betriebssystem Solaris. Das Unternehmen wurde 2010 von Oracle übernommen.

1.436 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von