Silizium auf Isolator (soi) Struktur mit Substratkontakt und Herstellungsverfahren
WO0143186
Art A1
14. Juni 2001
Anmelder: Infineon Technologies North America Corp. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO0143186
- Aktenzeichen
- EP00982405
- Anmeldetag
- 5. Dezember 2000
- Veröffentlichung
- 14. Juni 2001
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/762
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies North America Corp.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Infineon Technologies North America
Infineon Technologies North America ist die US-amerikanische Tochtergesellschaft des deutschen Halbleiterkonzerns Infineon Technologies. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Datenspeicherung und Schaltungstechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis 2015.
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