Source/drain-on-insulator (s/doi) field effect transistor using silicon nitride and silicon oxide and method of fabrication
WO0143198
Art A2
14. Juni 2001
Anmelder: Infineon Technologies North America Corp., International Business Machines Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO0143198
- Aktenzeichen
- EP00984240
- Anmeldetag
- 12. Dezember 2000
- Veröffentlichung
- 14. Juni 2001
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L29/06H01L21/336
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Infineon Technologies North America Corp.
International Business Machines Corporation - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
IBM
US-amerikanischer Technologiekonzern mit Sitz in Armonk, New York. International Business Machines entwickelt Hardware, Software, Cloud-Dienste sowie Lösungen für künstliche Intelligenz, Halbleiter und Unternehmens-IT.
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