Testmodus-Umschaltung für Speicherbaustein durch Spannungserhöhung und einer Folge von Testmodus-Steuersignalen
WO0159571
Art A2
16. August 2001
Anmelder: ADVANCED MICRO DEVICES, INC., FUJITSU LIMITED 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO0159571
- Aktenzeichen
- EP01920957
- Anmeldetag
- 5. Februar 2001
- Veröffentlichung
- 16. August 2001
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06F11/22
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ADVANCED MICRO DEVICES, INC.
FUJITSU LIMITED - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Advanced Micro Devices
US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.
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🇯🇵
Fujitsu
Japanisches Unternehmen für Informationstechnik, das Computer, Server, Netzwerktechnik sowie IT-Dienstleistungen und Softwarelösungen entwickelt und anbietet.
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