Anschlussfläche für Sublithographische Halbleiterstrukturen und Verfahren zu deren Herstellung

WO0199175 Art A1 27. Dezember 2001

Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO0199175
Aktenzeichen: EP01951357
Anmeldetag: 1. Juni 2001
Veröffentlichung: 27. Dezember 2001
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/336H01L29/786H01L29/08H01L29/267H01L29/165

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Infineon Technologies AG
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Infineon Technologies

Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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