Testumgebung und Verfahren zur Untersuchung Elektronischer Systeme
WO02054095
Art A1
11. Juli 2002
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO02054095
- Aktenzeichen
- EP01984719
- Anmeldetag
- 16. Dezember 2001
- Veröffentlichung
- 11. Juli 2002
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/319G06F17/50
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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