Verfahren und Gerät zur Bestimmung der Planung zur Waferbearbeitung in Verbundwerkzeugen mit Integrierter Mess- und Defektsteuerung
WO02059703
Art A2
1. August 2002
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO02059703
- Aktenzeichen
- EP02705841
- Anmeldetag
- 16. Januar 2002
- Veröffentlichung
- 1. August 2002
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G05B19/418
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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