Methode zur Kontrolle der Schichtdicke von Fotoresists
WO02071152
Art A2
12. September 2002
Anmelder: ADVANCED MICRO DEVICES, INC., Advanced Micro Devices, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO02071152
- Aktenzeichen
- EP02705986
- Anmeldetag
- 25. Januar 2002
- Veröffentlichung
- 12. September 2002
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ADVANCED MICRO DEVICES, INC.
Advanced Micro Devices, Inc. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Advanced Micro Devices
US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.
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