Memory testing method, information recording medium, and semiconductor integrated circuit

WO02073411 Art A1 19. September 2002

Anmelder: Hitachi, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO02073411
Aktenzeichen: EP02712468
Anmeldetag: 20. Februar 2002
Veröffentlichung: 19. September 2002
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/22G06F12/16G06F15/78G11C29/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi, Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi

Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.

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Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Software & Datenverarbeitung

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