Measuring method and device, and imaging method and device
WO02075290
Art A1
26. September 2002
Anmelder: NIKON CORPORATION, Tochigi Nikon Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO02075290
- Aktenzeichen
- EP02705134
- Anmeldetag
- 13. März 2002
- Veröffentlichung
- 26. September 2002
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/41
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NIKON CORPORATION
Tochigi Nikon Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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