Method of measuring chracteristic data for multilevel optical recording medium, and evaluation method for multilevel optical recording medium
WO02099791
Art A1
12. Dezember 2002
Anmelder: TDK Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO02099791
- Aktenzeichen
- EP02730915
- Anmeldetag
- 4. Juni 2002
- Veröffentlichung
- 12. Dezember 2002
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11B7/0045G11B7/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TDK Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
TDK Corporation
TDK Corporation ist ein japanischer Hersteller elektronischer Bauteile, bekannt für Kondensatoren, Sensoren, Batterien und Magnetwerkstoffe.
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