Verfahren zur Vermessung und Charakterisierung Paralleler Bildmerkmale

WO0223173 Art A2 21. März 2002

Anmelder: Infineon Technologies North America Corp. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO0223173
Aktenzeichen: EP01966264
Anmeldetag: 27. August 2001
Veröffentlichung: 21. März 2002
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/95

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Infineon Technologies North America Corp.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Infineon Technologies North America

Infineon Technologies North America ist die US-amerikanische Tochtergesellschaft des deutschen Halbleiterkonzerns Infineon Technologies. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Datenspeicherung und Schaltungstechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis 2015.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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