Optisches Inspektionssystem mit Lernsystem für Integrierte Komponenten

WO0229383 Art A2 11. April 2002

Anmelder: Teradyne, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO0229383
Aktenzeichen: EP01975328
Anmeldetag: 24. September 2001
Veröffentlichung: 11. April 2002
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/956G01R31/309H05K13/08

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Teradyne, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Teradyne

Teradyne ist ein US-amerikanischer Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und Elektronik mit Sitz in Massachusetts. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Elektronik-, Software- und Halbleitertechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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