Defect detection system and method

WO0242761 Art A1 30. Mai 2002

Anmelder: MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO0242761
Aktenzeichen: EP01990964
Anmeldetag: 13. November 2001
Veröffentlichung: 30. Mai 2002
Rechtsraum: WO
IPC: G01N29/06

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Massachusetts Institute of Technology

US-amerikanische Universität mit Sitz in Cambridge, Massachusetts, eine der weltweit führenden Forschungseinrichtungen. Aktiv in nahezu allen technischen und naturwissenschaftlichen Feldern, darunter Informatik, Ingenieurwesen, Materialwissenschaften und Biotechnologie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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