Electroless method of seed layer deposition, repair, and fabrication of cu interconnects

WO0245155 Art A2 6. Juni 2002

Anmelder: Intel Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO0245155
Aktenzeichen
EP01998997
Anmeldetag
6. November 2001
Veröffentlichung
6. Juni 2002
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/768H01L21/288
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Intel Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

26.628 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen