Optical recording medium inspecting method
WO03010764
Art A1
6. Februar 2003
Anmelder: TDK Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO03010764
- Aktenzeichen
- EP02749367
- Anmeldetag
- 24. Juli 2002
- Veröffentlichung
- 6. Februar 2003
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11B7/26G11B7/004
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TDK Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
TDK Corporation
TDK Corporation ist ein japanischer Hersteller elektronischer Bauteile, bekannt für Kondensatoren, Sensoren, Batterien und Magnetwerkstoffe.
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