Mask replacement method and exposure device
WO03017344
Art A1
27. Februar 2003
Anmelder: NIKON CORPORATION, Sendai Nikon Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO03017344
- Aktenzeichen
- EP02760677
- Anmeldetag
- 20. August 2002
- Veröffentlichung
- 27. Februar 2003
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/027G03F7/20H01L21/68
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- NIKON CORPORATION
Sendai Nikon Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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