Method for measuring friction characteristic of surface of optical recording medium
WO03021591
Art A1
13. März 2003
Anmelder: TDK Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO03021591
- Aktenzeichen
- EP02767857
- Anmeldetag
- 27. August 2002
- Veröffentlichung
- 13. März 2003
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11B7/26G11B7/24G10L13/00G01N19/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TDK Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
TDK Corporation
TDK Corporation ist ein japanischer Hersteller elektronischer Bauteile, bekannt für Kondensatoren, Sensoren, Batterien und Magnetwerkstoffe.
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