Liquid crystal process defect inspection apparatus and inspection method

WO03036274 Art A1 1. Mai 2003

Anmelder: Samsung Electronics Co., Ltd. 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO03036274
Aktenzeichen: EP02722947
Anmeldetag: 22. April 2002
Veröffentlichung: 1. Mai 2003
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/84G01N21/88

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Samsung Electronics Co., Ltd.
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Samsung Electronics

Südkoreanischer Elektronikkonzern und Teil der Samsung-Gruppe. Entwickelt und produziert Halbleiter, Speicherchips, Displays, Smartphones, Unterhaltungselektronik sowie Haushaltsgeräte für den globalen Markt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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