Electron Microscope Having X-Ray Spectrometer

WO03036677 Art A1 1. Mai 2003

Anmelder: JEOL LTD. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO03036677
Aktenzeichen: EP02705063
Anmeldetag: 28. Februar 2002
Veröffentlichung: 1. Mai 2003
Rechtsraum: WO
IPC: H01J37/252H01J37/244G21K1/06G01N23/225

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: JEOL LTD.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

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Fachgebiete

Elektrische Energietechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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